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產品簡介
常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備，通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性能測試，從而為研究和生產提供有價值的信息。探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環(huán)節(jié)，負責晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號，實現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測試測量。
| 品牌 | 鄭科探 |
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常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺
常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺技術參數(shù)；
屏蔽盒 | |
材質 | 碳鋼噴塑 |
盒體尺寸 | 180mmX120mmX80mm |
盒體尺寸 | 約2KG |
盒體上視窗尺寸 | Φ42mm |
樣品臺 | |
樣品臺材質 | 鋁合金 （可擴展真空吸附）（可擴展與大地絕緣） |
樣品臺尺寸 | φ30mm |
探針 | |
電信號接頭 | 配線轉接 BNC接頭 BNC三同軸接頭 SMA 接頭 香蕉插頭 選其一 線長1.2米 |
電學性能 | 絕緣電阻 ≥5000MΩ 介質耐壓 ≤500V 電流噪聲 ≤10pA |
探針數(shù)量 | 4探針（可擴展6探針） |
探針材質 | 鎢合金探針 （其他材質可選） |
探針尖 | 50μm 或10μm（其他規(guī)格可選） |
手動探針移動平臺 | |
移動方式 | 全手動點針 |
X軸移動行程 | 15mm ±7.5mm（需手動推動滑臺） |
X軸控制精度 | ≥500μm |
R軸移動行程 | 120° ±60°（需手動旋轉探針桿） |
R軸控制精度 | ≥500μm |
Z軸移動行程 | 5mm |
Z軸控制精度 | ≤50μm（需手動螺紋調節(jié)探針桿） |
目前公司已研發(fā)生產產品十多個系列幾十款產品，產品囊括實驗電爐 CVD供氣系統(tǒng) 等離子清洗機 小型離子濺射儀 小型蒸鍍儀 石英管真空封口 半導體等。 主要適用于科研院校及工礦企業(yè)在新材料、新能源等領域物理特性及化學特性的研究，廣銷于各大院校，及材料研究所。
公司與國內高校，科研院所有多層次的合作關系，建有開放實驗室，相關領域的教授、工程師、博士參與公司產品的研究和開發(fā)。我們秉承公司的發(fā)展理念，依靠嚴謹?shù)募夹g研發(fā)能力，科學合理的生產工藝，精益求精的制造要求，全心全意做好產品質量和服務工作，科探儀器時刻懷著一顆真誠的心期待與您的合作。
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